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Joule Yacht 霍尔效应测试系统 HET
方便。智能化的用户界面操作简单,功能齐全的软件平台带给客户友好的操作体验,使测试过程更加方便快捷。霍尔效应测试系统技术参数型号HET-RTHET-HT磁场强度6800Gs5000Gs磁场稳定性±2
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Lake Shore交直流霍尔效应测试系统 8400
8400系列交直流霍尔效应测试系统 Lake Shore 8400系列霍尔效应测量系统结合了先进的交流和直流磁场霍尔效应测量方法,应用领域十分广泛。交流磁场测量选件
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宽温高精度霍尔效应测试系统(70-730K)
宽温高精度霍尔效应测试系统(70-730K)高精度、宽变温范围、高稳定度霍尔效应测量系统!变温霍尔效应测量系统是利用范德堡测量技术对半导体材料的电阻率
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Joule Yacht 薄膜热电参数测试系统 MRS
薄膜热电参数测试系统产品特点 ● 专门针对薄膜材料的Seebeck系数和电阻率测量。 ● 测试环境温度范围达到81K~700K。 ● 采用动态法测量Seebeck系数,避免了静态
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Joule Yacht 薄膜热导率测试系统 TCT-RT
薄膜热导率测试系统产品特点 ● 不直接测量温度变化,而是通过测量材料在导热过程中温度的变化转换为的电信号的变化来实现微/纳米薄膜材料的热导率,微伏级电压值,保证测量结果的高精确度
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Joule Yacht 薄膜热导率测试系统 TCT-HT
薄膜热导率测试系统产品特点 ● 不直接测量温度变化,而是通过测量材料在导热过程中温度的变化转换为的电信号的变化来实现微/纳米薄膜材料的热导率,微伏级电压值,保证测量结果的高精确度
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Joule Yacht 热电参数测试系统 Namicro-3LT
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霍尔效应测试系统
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Joule Yacht 霍尔效应测试系统 HET
霍尔效应测试系统依据范德堡法则测量材料的电运输性能参数:载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等,薄膜或薄层材料均可测量,可应用于所有半导体材料,包括Si、ZnO、SiGe、SiC,GaAs
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Joule Yacht 薄膜变温电阻测试仪 TRT
薄膜变温电阻测试仪采用双电法测量高温、真空、气氛条件下的电阻和电阻率,可以用来分析样品的电阻率随温度变化曲线、电阻温阻系数、样品相变温度点。其广泛用于光电、铁电、热电等各种导电材料的电阻率测量
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